표준연, '손상 DNA 조각' 개수까지 세는 초정밀 분석 기술 개발
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표준연, '손상 DNA 조각' 개수까지 세는 초정밀 분석 기술 개발

한국표준과학연구원(KRISS)은 세포의 DNA 복구 과정에서 발생하는 극미량 '손상 DNA 조각'을 초고감도로 검출하고 정량화할 수 있는 분석 플랫폼을 개발했다고 14일 밝혔다.

기존 방식이 단순히 DNA 복구 정도를 '많다, 적다' 수준으로 상대 비교했다면, 이번 기술은 세포 내에서 발생하는 DNA 조각의 개수까지 파악할 수 있는 세계 최고 수준의 정밀도를 확보했다고 연구진은 설명했다.

이를 통해 DNA 복구 속도와 세포별 반응 차이를 객관적으로 분석할 수 있는 정밀 의료 연구 기반을 마련했다고 연구진은 덧붙였다.

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