인하대 반도체특성화대학사업단, 제26회 한국테스트학술대회 참가
이번 행사는 한국반도체테스트학회가 주관하고 삼성전자, SK하이닉스 등 37개 기업이 후원하는 국내 유일의 반도체 테스트 전문 학술대회다.
학술대회에서 인하대 반도체특성화대학사업단 소속 정성빈 전기전자공학부 학생(지도교수 이영우)이 삼성전자 후원 최우수논문상을 받았다.
이 기술은 반도체 칩이 스스로 회로의 이상 여부를 진단하는 내장형 자가 테스트(LBIST) 구조에 적용 가능한 방식으로, 반도체 테스트의 효율성과 신뢰성 향상에 기여할 수 있다는 점에서 높은 평가를 받았다.
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